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抵抗変化メモリーの挙動解明 産総研と筑波大学が共同で

机译:电阻变化记忆AIST和筑波大学联合阐明

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摘要

産業技術総合研究所(産総研)ナノエレクトロニクス研究部門3D集積システム研究グループの馮ウェイ研究員、エマージングデバイス研究グループの島久主任研究員らは、筑波大学数理物質系物理工学域の大毛利健治淮教授と共同で、幅広い電流レンジでノイズを計測する手法を開発。不揮発性メモリーである抵抗変化メモリー(ReRAM)が、100nAという超低消費電力で動作する際の挙動について明らかにした。
机译:AIST纳米电子研究所3D集成系统研究组研究员Feng Wei,新兴设备研究组资深研究员Shimahisa和筑波大学大桥健二教授共同开发了一种在较大电流范围内测量噪声的方法。我们已经阐明了非易失性存储器电阻变化存储器(ReRAM)在以100nA的超低功耗工作时的行为。

著录项

  • 来源
    《电波新闻》 |2017年第17088期|3-3|共1页
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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
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  • 入库时间 2022-08-17 23:47:56

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