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机译:未钝化GaN / AlGaN / GaN / SiC HEMT的低电流色散和低偏置应力退化
Institute of Thin Films and Interfaces, Research Centre Juelich, 52425 Juelich, Germany;
III-V semiconductor-to-semiconductor contacts; p-n junctions; and heterojunctions; III-V semiconductors; field effect devices;
机译:等离子体辅助MBE在半绝缘6H-SiC衬底上生长的具有最小RF色散的非钝化AlGaN-GaN HEMT
机译:原位钝化与GaN缓冲优化相结合,可在Si(111)上的Si_3N_4 / AlGaN / GaN HEMT器件中实现极低的电流分散和极低的栅极泄漏
机译:然后讨论AlGaN / GaN HFET中的低频磁滞和电流色散的原因AlGaN / GaN HFET中的低频磁滞和电流色散的原因
机译:SiC上未钝化GaN / AlGaN / GaN HEMT中的热电子应力退化
机译:低维硅MOS和AlGaN / GaN HEMT器件中的应变效应。
机译:在6英寸N掺杂的低电阻率SiC基板上的常压P-GaN栅极AlGaN / GaN Hemts的高热耗散
机译:栅极漏电流对alGaN / GaN HEmT的影响由低频噪声和脉冲电测量证明,栅极漏电流对alGaN / GaN HEmT的影响由脉冲I-V和低频噪声测量证明