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机译:通过基于阻抗的光谱和瞬态电流光谱对基于半导体的金属-绝缘体-半导体电容器的界面分析
School of Engineering and Science, Jacobs University Bremen, D-28759 Bremen, Germany;
School of Engineering and Science, Jacobs University Bremen, D-28759 Bremen, Germany;
School of Engineering and Science, Jacobs University Bremen, D-28759 Bremen, Germany;
Transient current; Impedance spectroscopy; MIS capacitors; DOS; Dispersive transport; SAMs;
机译:SiO2 / GeO2双层钝化的Ge金属-绝缘体-半导体电容器的深层瞬态光谱法精确表征界面态
机译:SiO_2 / GeO_2双层钝化的Ge金属-绝缘体-半导体电容器的深层瞬态光谱法精确表征界面态
机译:原子层沉积Al_2O_3 / GaN金属-绝缘体-半导体电容器的界面陷阱表征
机译:100cm〜2级熔融碳酸盐燃料电池电流中断和电化学阻抗光谱的瞬态响应分析
机译:使用电化学阻抗谱和ATR-FTIR光谱表征溶液中的电极/ SAM /电解质界面和分子间相互作用。
机译:在聚合物基结构中通过电阻开关形成细丝的原位阻抗谱
机译:阻抗光谱法测定聚合物基金属 - 绝缘体 - 半导体电容器中的界面状态分布
机译:聚苯胺基聚合物发光器件在电阻抗谱运行中的表征