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机译:SiO_2 / GeO_2双层钝化的Ge金属-绝缘体-半导体电容器的深层瞬态光谱法精确表征界面态
Interdisciplinary Graduate School of Engineering Sciences, Kyushu University, 6-1 Kasuga-koen, Kasuga, Fukuoka 816-8580, Japan;
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Art, Science and Technology Center for Cooperative Research, Kyushu University, 6-1 Kasuga-koen, Kasuga, Fukuoka 816-8580, Japan;
机译:SiO2 / GeO2双层钝化的Ge金属-绝缘体-半导体电容器的深层瞬态光谱法精确表征界面态
机译:SiO_2 / GeO_2 / Ge栅叠层边界陷阱的深层瞬态光谱分析
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机译:近距离导通带边缘的SiO_2 / 4H-SIC结构中接口状态的深层瞬态光谱表征
机译:化学传感器,使用基于Quantum Fingerprint™模型的单晶金刚石板与基于电荷的深层瞬态光谱法进行查询:仪器和方法
机译:在(100)和(311)B GaAs衬底上生长的GaAs / AlGaAs多量子阱的深层瞬态光谱
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