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机译:在不同环境中薄膜的椭圆偏振光谱分析:一种创新的“反面”方法,可进行多角度测量
Dipartimento di Ingegneria Meccanica. Settore Materiali. Universita di Padova Via Marzolo 9 35131 Padova Italy;
LOT-Oriel Italia Sri Via Sapori 27 00133 Roma Italy;
thin films; porosity; ellipsometry;
机译:非晶态有机薄膜的表征,椭圆偏振光谱测量的精确模型的确定
机译:分光光度法和核测量研究多晶硅薄膜的结构和氢含量
机译:光谱椭圆偏振法测量金属薄膜
机译:结合光束轮廓反射法(BPR〜(TM)),绝对椭圆仪(AE〜(TM))和光谱椭圆仪(SE)的多域遗传算法(MDGA)测量193nm TNK薄膜
机译:使用光谱椭圆偏振法通过掠角沉积产生的薄膜的光学表征
机译:椭圆偏振法在透明表面上薄膜的光学性质;接近临界角的覆膜表面的内部反射
机译:用可变角度椭偏光谱法(VasE)研究Inx(as2se3)1-x薄膜