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机译:LVM研究表明,退火后硅中辐射引起的与碳氧有关的缺陷的演变
Joint Institute of Solid State and Semiconductor Physics, P. Brovki Street 17, 220072 Minsk, Belarus;
silicon; irradiation; carbon; oxygen; vibrational modes;
机译:硅中放射性空位氧缺陷的退火机理
机译:硅中辐射诱发的缺陷的退火
机译:高温热处理对n型硅晶体中辐射诱发缺陷的产生和退火的影响
机译:6H-SiC中辐射致缺陷的退火研究
机译:磷化铟太阳能电池中辐射引起的缺陷退火的研究。
机译:退火引起的升华生长立方碳化硅点缺陷性质的变化
机译:毫秒闪光退火后预先无定形硅中的扩展缺陷演变