机译:Si(111)上GaN外延层的位错密度和四方畸变:RBS / C和TEM的比较研究
IMEC, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium,Instituut voor Kern- en Stralingsfysica, KU Leuven, Celestijnenlaan 200D, B-3001 Leuven, Belgium;
IMEC, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium;
IMEC, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium;
Instituut voor Kern- en Stralingsfysica, KU Leuven, Celestijnenlaan 200D, B-3001 Leuven, Belgium;
IMEC, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium;
Instituut voor Kern- en Stralingsfysica, KU Leuven, Celestijnenlaan 200D, B-3001 Leuven, Belgium;
IMEC, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium,Instituut voor Kern- en Stralingsfysica, KU Leuven, Celestijnenlaan 200D, B-3001 Leuven, Belgium;
GaN; RBS channeling; TEM; Dislocation density; Tetragonal strain;
机译:通过RBS /沟道和HRXRD研究Si(111)上具有多个缓冲层的GaN外延层的四方畸变
机译:通过卢瑟福反向散射/沟道研究在Si(111)上具有AlN中间层的GaN外延层的深度依赖四方畸变
机译:使用rbs和沟道技术研究AlGaN外延层薄膜的深度依赖四方畸变
机译:在Si(111)上具有三层AlGaN中间增长的GaN癫痫术的深度依赖四方畸变的研究
机译:用于稳定双极二极管的4H-碳化硅的低基面位错密度外延层的生长。
机译:接近无应变的GaN兼容缓冲层上GaN外延层中的超低穿线位错密度及其在异质外延LED中的应用
机译:Si(111)上GaN外延层的位错密度和四方畸变:RBS / C和TEM的比较研究
机译:在(00-1)蓝宝石,(100)和(111)硅衬底上生长的高质量aIN和GaN外延层