机译:在Si,Fe,Cu和Zn的厚样品中为kαX射线产生横截面的KαX射线产生横截面的PIXE测量
Chiang Mai Univ Fac Sci Dept Phys & Mat Sci Plasma & Beam Phys Res Facil Chiang Mai 50200 Thailand|Vidyasirimedhi Inst Sci & Technol Sch Mol Sci & Engn Rayong 21210 Thailand;
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Particle induced X-ray emission (PIXE); MeV C-ion; Proton; Yield; X-ray production cross section; Thick sample;
机译:硅,铁,铜和锌厚样品中1-MeV C〜+离子的KαX射线产生截面的PIXE测量
机译:O,Cl,Cu和Br离子在4 MeV和40 MeV之间的能量在Ti,Fe,Zn,Nb和Ta上诱导产生的X射线截面
机译:通过富集的Zn-70靶的Cu-67的产生:首先测量Cu-67,Cu-64,Ga-67,Ga-66,Zn-69m和Zn-65的形成横截面,与质子相互作用 超过45 mev.
机译:l Fe,Cu,Zn和Ge的质子撞击的L X射线生产横截面
机译:使用阿特拉斯探测器测量μ介子中包含微分的W玻色子的产生和衰减截面。
机译:流感病毒H5N1感染可以诱导人复制的铜/锌超氧化物歧化酶(SOD1)过度表达调节的A549细胞中病毒复制和宿主细胞死亡的ROS产生。
机译:Ti,Fe,Zn,Nb和Ta诱导X射线产生的截面 O,Cl,Cu和Br离子的能量在4 meV和40 meV之间
机译:来自48TI,51V,52CR,54FE,56FE,59CO,60NI,62NI,64NI,63CU,65CU,64ZN,66ZN和68ZN的11.0-mev质子的弹性和非弹性散射:列表的差分截面。