机译:使用厚靶法通过低能电子撞击测量Pb的L-子壳X射线产生截面和M-壳X射线产率
School of Nuclear Science and Engineering East China University of Technology Nanchang 330013 China;
School of Earth Sciences East China University of Technology Nanchang 330013 China;
The Engineering and Technical College of Chengdu University of Technology Leshan 614000 China;
L-subshell cross sections; M-shell x-ray yields; Thick-target method; Monte Carlo simulation;
机译:Ta,W,Pt,Au,Pb和Bi的L-副壳和M-壳总X射线产生截面为0.7-2.4 MeV质子
机译:通过100 keV / u质子,C,N,O离子测量_(79)Au,_(82)Pb和_(83)Bi的线分辨M壳X射线产生截面
机译:低能量电子影响的Oα,Lβ,Lγ和M X射线生产横截面的测量结果,IR和PT:理论的实验比较
机译:用于元素Zr,Mo,Cd,ER的k X射线荧光横截面,荧光产率,水平宽度和辐射空位过渡概率为59.54 kev
机译:0.4和铀M壳X射线产生的横截面,用于0.4–4.0 MeV质子,0.4–6.0 MeV氦离子,4.5–11.3 mev碳离子和4.5–13.5 MeV氧离子
机译:从DNA碱基测量低能量电子散射的无弹性横截面
机译:通过电子碰撞测量Ge的绝对K壳电离截面和L壳X射线产生截面