机译:采用CMOS 0.35μm技术开发的64通道电荷测量ASIC的设计和测试
Dipartimento di Fisica Sperimentale, Universitd di Torino, Via P. Giuria 1, Torino 10125, Italia;
VLSI electronics; CMOS technology; current-to-frequency converter; dosimetry; beam position monitor; radiotherapy; hadrontherapy;
机译:电离辐射对采用CMOS 0.35μm技术设计的64通道电荷测量ASIC的影响
机译:0.35微米CMOS技术的低功耗,快速单光子计数ASIC CLARO-CMOS的辐射硬度测试和表征
机译:CLARO-CMOS:一种快速,低功耗,抗辐射能力强的前端ASIC,用于采用0.35微米CMOS技术的单光子计数
机译:基于CMOS0.35μm对数像素的数字系统的设计与测试飞行测量应用时间
机译:使用0.35微米CMOS技术的RF宽带低噪声放大器的设计。
机译:0.35μmCMOS SPAD的设计表征和分析
机译:CLaRO-CmOs:快速,低功耗和抗辐射的前端asIC,用于0.35微米CmOs技术的单光子计数
机译:NIsT特别出版物400-93的颜色补充:半导体测量技术:CmOs和横向双极性sOI测试库的设计和测试指南