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Temperature dependence of diffusion length in MCT epitaxial layers

机译:MCT外延层中扩散长度的温度依赖性

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摘要

The temperature dependence of the minority charge carriers diffusion length in the active photosensitive layer of a matrix photodetector based on MCT heteroepitaxial structure grown by molecular beam epitaxy is studied.
机译:研究了基于分子束外延生长的MCT异质外延结构的矩阵光电探测器有源光敏层中少数载流子扩散长度的温度依赖性。

著录项

  • 来源
    《NTT R&D》 |2016年第3期|344-347|共4页
  • 作者单位

    Orion R&P Assoc Inc, 9 Kosinskaya Str, Moscow 111538, Russia|Moscow Inst Phys & Technol, Inst Per 9, Dolgoprudnyi 141700, Moscow Oblast, Russia;

    Orion R&P Assoc Inc, 9 Kosinskaya Str, Moscow 111538, Russia|Moscow Inst Phys & Technol, Inst Per 9, Dolgoprudnyi 141700, Moscow Oblast, Russia;

    Orion R&P Assoc Inc, 9 Kosinskaya Str, Moscow 111538, Russia|Moscow Inst Phys & Technol, Inst Per 9, Dolgoprudnyi 141700, Moscow Oblast, Russia;

    Orion R&P Assoc Inc, 9 Kosinskaya Str, Moscow 111538, Russia;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

    MCT; infrared range; heteroepitaxial structures; minority charge carriers; diffusion length;

    机译:MCT;红外范围;异质外延结构;少数载流子;扩散长度;

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