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立体チャネルもオン電流向上が焦点にひずみSiとの融合が相次ぐ

机译:着眼于改善三维通道中的电流,继续与应变硅融合。

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摘要

LSIメーカー各社が開発に力を入れる,rnフィンFETやナノワイヤーFET。オフ・リrnーク電流の抑制を主眼とするこれら立体rnチャネルFETでも,オン電流向上が焦点rnとなっている。立体チャネルが導入されrnる見通しの22nm以降では,オン電流へrnの要求が厳しくなることが背景にある。rnオン電流向上に向けて,まずはひずrnみSi技術との融合が課題となる。
机译:鳍片FET和纳米线FET,LSI制造商专注于此。即使在主要目的是抑制断续电流的这些三维rn沟道FET中,重点也放在改善导通电流上。这是因为在期望引入三维沟道的22nm及以后,导通电流对rn的要求变得更加严格。为了改善导通电流,首先,扭曲硅技术的融合成为一个问题。

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  • 来源
    《日経マイクロデバイス》 |2008年第272期|75-75|共1页
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