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【24h】

SSDの寿命はDWPDを指標にECCの限界にも留意

机译:SSD的寿命是以DWPD为指标,并且还考虑了ECC的限制。

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摘要

第4回と第5回でSSDの内部構成や動作原理、耐久性や信頼性の低下について紹介してきた。今回は、SSDで発生しやすい不具合と、SSDに対する誤解について、代表的な事例を基に解説する。SSDは万能な"魔法"のストレージではない。SSDの代表的な不具合事例が三つある。OS起動用に利用しているSSDでのデータ破損や消失、MLC(multi-level cell)のNANDフラッシュ•メモリを採用したSSDのパラドックスによるもの、そしてRAID技術への過信によるものである。
机译:在第四和第五篇文章中,我们介绍了SSD的内部配置,工作原理以及耐用性和可靠性的下降。这次,我们将基于典型案例解释SSD中可能出现的缺陷以及对SSD的误解。 SSD并非万能的“魔术”存储。 SSD缺陷通常有三种情况。这是由于用于引导OS的SSD上的数据损坏或丢失,使用MLC(多级单元)NAND闪存的SSD悖论以及对RAID技术的过度依赖所致。

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