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机译:器件和电路中的超薄介电击穿:简要回顾
School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA;
School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA;
School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA;
Breakdown statistics; Circuit lifetime prediction; Compact model; Magnetic tunnel junction (MTJ); Time-dependent dielectric breakdown (TDDB); Ultra-thin dielectric;
机译:具有HfLaO和HfZrLaO超薄栅极电介质的金属氧化物半导体电容器的时间相关介电击穿(TDDB)特性
机译:由柔性碳纳米管薄膜晶体管和超薄聚合物栅极电介质组成的逻辑电路
机译:极性相关的热化学E模型,用于描述具有超薄栅极电介质的金属氧化物半导体器件中随时间变化的电介质击穿
机译:超薄栅氧化物中介电击穿的结构依赖性及其与软击穿模式和器件故障的关系
机译:使用交联的聚电解质多层作为超薄介电材料的有机电子设备。
机译:由柔性碳纳米管薄膜晶体管和超薄聚合物栅极电介质组成的逻辑电路
机译:超薄高k栅极堆叠的介电击穿后MOSFET的恢复和电路功能
机译:使用交联聚电解质多层膜作为超薄电介质材料的有机电子器件