机译:基于FinFET的产品性能:FinFET技术中标准单元的建模和评估
Tech Univ Munich, Inst Elect Design Automat, D-80290 Munich, Germany;
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FinFET; Process variations; Reliability; TDDB;
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机译:基于14μnmFinFET的6T SRAM单元功能的性能评估,用于直流和瞬态电路分析
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