机译:PZT铁电薄膜的纳米测量和分形分析的原子力显微镜
Department of Mechanical Engineering, National Chung Cheng University, Chai-Yi 621, Taiwan;
radio frequency magnetron sputtering; PZT ferroelectric thin film; atomic force microscopy; rapid thermal annealing; fractal analysis;
机译:原子力显微镜和分形几何分析表征高分子氧化物纳米复合薄膜的微观形态
机译:用原子力显微镜和分形分析评估季n-Al_(0.08)In(0.08)Ga(0.84)N薄膜上Pt肖特基接触的表面粗糙度
机译:用低能氮离子改性镍薄膜表面的分形特征:原子力显微镜测定微观形态学(AFM)
机译:PbZr1-xTixO3(PZT)薄膜中铁电畴的形成和原子力显微镜观察
机译:铁电PZT薄膜的椭圆偏振光谱分析和纳米结构表征。
机译:氧响应对BiFe0.95Mn0.05O3薄膜的畴动态和局部电学特性的压电响应力显微镜和导电原子力显微镜研究
机译:铁电薄膜中原子力显微镜诱导的电场