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机译:HfO_2 / TaN / TiN栅堆叠MOSFET中的击穿后电流针对低施加偏置的分析
Escola Tecnica Superior d'Enginyeria, Universitat Autonoma de Barcelona, Bellaterra 08193, Spain;
机译:具有TiN / TaN / HfO_2 / SiO_2栅堆叠的外延Ge p沟道金属氧化物半导体场效应晶体管中栅极电流的直流和噪声特性
机译:具有TiN / TaN / $ hbox {HfO} _ {2} $栅叠层的硅钝化Ge pMOSFET的低频噪声评估
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机译:HFO {Sub} 2 / TAN / TIN堆栈中击穿后电流分析模型
机译:具有高kappa栅极堆叠的III-V p-MOSFET的开发,用于未来的CMOS应用。
机译:氟化HfO2 / SiON栅堆叠的单轴应变nMOSFET的电学特性
机译:具有高k栅极堆叠的mOsFET的漏极和栅极电流中的1 / f噪声