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【24h】

Techno-Akrobatik an den letzten Gestaden der Lichtoptik-Die EMC 2004 erforscht die Grenzen der optischen Lithografie

机译:光学技术的最后一门技术– EMC 2004探索光学光刻的局限性

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摘要

Die ungebremste Miniaturisierung in der Mikroelektronik verlangt ihren Tribut. So sucht die Halbleiterindustrie händeringend nach innovativen Fotomasken, die den immer komplexeren und kompakteren Strukturen gerecht werden. Die damit verbundenen technologischen Herausforderungen standen im Brennpunkt der von der VDE/VDI-Gesell-schaft Mikroelektronik, Mikro-und Feinwerktechnik vom 12. bis 14. Januar in Dresden veranstalteten internationalen Fachtagung > 20th European Mask Conference on Mask Technology for Integrated Cir-cuits and Micro-Components (EMC 2004) < , die von mehr als 170 Teilnehmern besucht und vom sächsischen Minister für Wirtschaft und Arbeit, Dr. Martin Gillo, eröffnet wurde.
机译:微电子学中未经检查的小型化付出了巨大的代价。半导体行业迫切需要创新的光掩模,以应对日益复杂和紧凑的结构。相关的技术挑战是国际会议的焦点>由VDE / VDI协会微电子,微细加工和精密工程于1月12日至14日在德累斯顿举办的第20届欧洲集成电路集成面罩技术欧洲面罩会议。微型组件(EMC,2004年)<,有170多个参与者和萨克森经济和劳工大臣Dr. Dr.马丁·吉洛(Martin Gillo)打开了。

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  • 来源
    《Mechatronik F&M》 |2004年第3期|p.8-11|共4页
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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 ger
  • 中图分类 仪器、仪表;
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