机译:影响非制冷红外探测器Pb(Zr,Ti)O-3薄膜热释电性能的因素
Univ Suwon, Dept Elect Mat Engn, Suwon 445743, South Korea;
zirconium-rich PZT; thin film; pyroelectric property; poling direction; ELECTRICAL-PROPERTIES; PZT; DEPOSITION;
机译:热释电红外探测器用溶胶-凝胶Pb(Zr_(0.3)Ti_(0.7))O_3与Pb(Zr_(0.3)Ti_(0.7))O_3 / PbTiO_3多层薄膜的比较研究
机译:热电红外传感器用多层Pb(Zr0.3Ti0.7)O-3 / PbTiO3薄膜的极化
机译:RF溅射PB(Zr-0.60,Ti-0.40)O-3薄膜的增强介电和压电性能,沉积在溶胶 - 凝胶的PB1 + X(Zr-0.40,Ti-0.60)O-3种子层上,具有各种铅含量
机译:基于溶胶 - 凝胶衍生PB的微机加工热电红外探测器(Zr_(0.3)Ti_(0.7)O_3 / PBTIO_3多层薄膜
机译:压电瘤应用Pb(Zr0.3Ti0.7)O3薄膜对缩放效应对缩放效应的影响
机译:PB1-Xlax(Zr0.52Ti0.48)的压电性能1-X / 4O3薄膜通过原位X射线衍射研究
机译:厚度对Ni取代pb(Zr0.2Ti0.8)O-3薄膜介电,铁电和光学性质的影响