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机译:一种测量基板上薄膜疲劳和拉伸性能的电学方法
National Institute of Standards and Technology, Materials Reliability Division, 325 Broadway, Boulder, CO 80305, U. S. A.;
basquin equation; electrical testing; fatigue; interconnect reliability; thermal cycling; thermal fatigue; thin-film fatigue; thin-film strength;
机译:沉积条件对通过EB-PVD(加IBAD)方法制备的Sm2O3掺杂的CeO2薄膜的电气和机械性能的影响。压痕时被膜与基材的关系
机译:通过局部探针方法定量评估氧化铟锡基底上的喷墨印刷PEDOT:PSS薄膜的机械和电气性能
机译:局部探头方法的定量评估喷墨打印PEDOT的机械和电性能:PSS薄膜氧化铟锡基材上的薄膜
机译:一种测量基板上薄膜疲劳和拉伸性能的电学方法
机译:基材对铅基铁电薄膜的结构和电性能的影响。
机译:Nd掺杂Bi4Ti2.99Mn0.01O12薄膜在疲劳过程中的温度相关域动力学和电性能
机译:基材温度对磁控溅射层逐层掺杂锌氧化物薄膜结构,光学和电性能的影响