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机译:使用低能电子微柱的接触孔检查方法
Department of Information Display and CNST, Sun Moon University, 100 Kalsan-ri, Asan,Chungnam 336-708, Korea;
Department of Information Display and CNST, Sun Moon University, 100 Kalsan-ri, Asan,Chungnam 336-708, Korea;
Department of Information Display and CNST, Sun Moon University, 100 Kalsan-ri, Asan,Chungnam 336-708, Korea;
Department of Information Display and CNST, Sun Moon University, 100 Kalsan-ri, Asan,Chungnam 336-708, Korea;
CEBT Co., 100 Kalsan-ri, Asan, Chungnam 336-708, Korea;
Department of Embedded Systems, Seoul University of Venture and Information, 37-18, Samseong-dong,Gangnam-gu, Seoul 135-090, Korea;
Cavendish Laboratory, Cambridge University, Cambridge CB3 OHE, United Kingdom;
Department of Information Display and CNST, Sun Moon University, 100 Kalsan-ri, Asan,Chungnam 336-708, Korea CEBT Co., 100 Kalsan-ri, Asan, Chungnam 336-708, Korea;
机译:多层ULSI器件中使用低能电子束检测接触/孔的新方法
机译:使用微柱发出的低能电子束检查TFT器件
机译:使用低能电子微柱检查薄膜晶体管液晶显示面板中的开路缺陷
机译:使用微柱发出的低能电子束检查TFT器件
机译:Supercell Bloch波方法,用于计算低能电子反射率,并应用于独立式石墨烯和二硫化钼。
机译:低能电子辐射下石墨烯场效应晶体管的接触电阻和沟道电导
机译:低能电子辐照下石墨烯场效应晶体管的接触电阻和沟道电导
机译:电子电路焊接可靠接触方法的发展,包括焊接过程中表面反应的研究