机译:使用低能X射线发射光谱和全晶片二次离子质谱/角分辨X射线电子光谱技术进行等离子体掺杂二维表征
Micron Technology, Inc., 8000 Federal Way, Boise, Idaho 83707;
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机译:二次离子质谱和低能电子诱导X射线发射光谱法测量带图案晶片的浅As剂量
机译:通过基质辅助激光解吸电离,飞行时间二次离子质谱,兆电子伏特二次质谱,气相色谱/质谱,X射线光电子能谱和衰减全反射傅立叶变换红外光谱对潜在指纹进行化学表征成像:比较
机译:通过校准激光诱导击穿光谱(CF-LIBS)的水泥元素分析,与激光消融 - 飞行时间 - 质谱(La-TOF-MS)的比较,能量分散X射线光谱(EDX),X. -ray荧光光谱(XRF)和质子诱导X射线发射光谱法(PIME)
机译:X射线光电子谱,飞行时间二次离子质谱和X射线衍射中掺杂掺杂氧化锌中半导体金属转变的见解
机译:通过飞行时间二次离子质谱,基质辅助激光解吸质谱和X射线光电子能谱表征新型聚合物。
机译:通过扫描声学显微镜扫描电子显微镜能量色散X射线光谱法和电感耦合等离子体发射光谱法检查枪声中的金属动员:病例报告
机译:潜在指纹的化学表征,包括基质辅助激光解吸电离,飞行时间二次离子质谱,兆电子伏特二次质谱,气相色谱/质谱,X射线光电子能谱和衰减全反射傅里叶变换红外光谱成像:比较
机译:仪器结合X射线光电子能谱和二次离子质谱进行表面研究