机译:ln(x)Ga(1-x)N / GaN异质结构中的界面电子结构分析
Univ Calif San Diego, Dept Elect & Comp Engn, La Jolla, CA 92093 USA;
HETEROJUNCTION BIPOLAR-TRANSISTORS; RAY PHOTOEMISSION SPECTROSCOPY; VALENCE-BAND DISCONTINUITIES; INGAN/GAN QUANTUM-WELLS; MOLECULAR-BEAM EPITAXY; BIAS LEAKAGE CURRENT; PIEZOELECTRIC FIELD; SCHOTTKY DIODES; GAN; REDUCTION;
机译:沉积后退火对Al2O3覆盖的GaN和GaN / AlGaN / GaN异质结构的界面电子结构的影响
机译:In _xGa _(1-x)N背势垒对Al _(0.31)Ga _(0.69)N / AlN / GaN / In _xGa _(1-x)N / GaN异质结构中位错密度的影响(0.05 ≤x≤0.14)
机译:AlGaN缓冲剂的作用和通道厚度在Al_xIn_(1-x)N / AlN / GaN异质结构电子传输特性中的作用
机译:未掺杂GaN / In_xGa_(1-x)N / GaN异质结构界面处的量子阱的理论分析
机译:用于节能半导体器件的Si / GaN异质结构的GaN和界面工程的表面工程
机译:X射线光发射光谱法测量的非极性A面GaN / AlN和AlN / GaN异质结构的能带偏移
机译:通过金属-绝缘体-半导体-异质结构电容器的C(V)表征研究氮化硅钝化和AlGaN / AlN / GaN异质结构之间的界面