机译:紧凑张力试样中用于裂纹长度测量的电位降系统的实验校准
Politecnico di Milano, Mechanical Department, via La Masa 34, 20158 Milano, Italy;
potential drop; compact tension specimen; crack growth; calibration curve;
机译:锆合金试件电位降裂纹测量系统的选择
机译:常见裂纹增长标本的统一潜在损失校准功能
机译:感应电势下降技术在测量管状试样内壁裂缝中的应用
机译:C(T)试样初始裂缝长度对直流电位滴法测定裂纹传播测量的影响
机译:Zr-2.5Nb试样的直流电势差裂纹测量系统。
机译:使用小型紧凑型拉伸试样测量纯钨的断裂韧性
机译:试件尺寸和裂纹深度比对修改后的紧凑型试件的校准曲线的影响