机译:以归一化漏电流为准参数的商用PMOS晶体管的大剂量辐射剂量计
NATL TSING HUA UNIV DEPT NUCL ENGN & ENGN PHYS HSINCHU TAIWAN;
Radiation dosimeters; Radiation doses; Metal oxide semiconductor; Pmos transistors; Field effect transistors; Commercial device; Dosimetric parameters; Radiation doses; Drain current; Threshold voltage; Sensitivity; Field-effect transistors; Sensitivity; Radfet; Space;
机译:商用PMOS晶体管使用归一化漏极电流作为剂量参数的大剂量辐射剂量计
机译:暴露于梯度剂量后65nm pMOS晶体管的漏极电流崩溃
机译:pMOS剂量计在低场模式下可用于放射治疗的辐射剂量测量
机译:漏极扩展NMOS和PMOS晶体管中基于亚阈值电流的加速和OFF状态TDDB的建模
机译:SiGe PMOS器件上的总电离剂量辐射效应和负偏置温度不稳定性
机译:用于22nm体PMOS晶体管的HK和MG集成了源极和漏极中的高应变SiGe
机译:pmOs剂量计在低场模式下的应用,可用于放射治疗的辐射剂量测量