机译:辐照低合金钢中纳米析出物的定量表征:FEG-STEM定量显微分析在实际材料中的应用进展
Bechtel Bettis Inc.;
Department of Materials Science and Engineering/Center for Advanced Materials and Nanotechnology Lehigh University;
Department of Materials Science and Engineering/Center for Advanced Materials and Nanotechnology Lehigh University;
Department of Materials University of Oxford;
Steel; Irradiation damage; Scanning transmission electron microscopy; Spatial resolution; X-ray spectrum image; Quantitative thin-film X-ray analysis; ζ(Zeta)-factor method; Atom probe field-ion microscopy;
机译:辐照低合金钢中纳米析出物的定量表征:FEG-STEM定量显微分析在实际材料中的应用进展
机译:薄样品定量电子探针X射线显微分析方法的发展与比较及其在生物材料中的应用
机译:定量扫描消逝微波显微镜及其在功能材料库表征中的应用
机译:电子显微镜中真实材料的X射线定量显微分析与蒙特卡洛模拟
机译:关于用于定量材料表征的冷中子辐照器(CNI)的设计。
机译:低强度和高强度低合金钢和高马氏体填充材料的TRIP参数K的实验测定
机译:高空间分辨率的定量微量分析:FEG-DTEm XEDs微量分析在辐照低合金钢板复杂微观结构表征中的应用