定量表征纳米二氧化硅在聚合物基体中的分散性能研究

摘要

为了能合理定量地评价粒子在基体中的分散性能,提出了一种定量表征颗粒在聚合物基体中分散状态的新方法,通过测量填充粒子的比表面积,来判断粒子在基体中的分散效果。该方法能够较全面地反映影响分散性的几个因素,如粒子尺寸、粒子浓度以及分布情况。利用该方法,对纳米SiO2/形状记忆聚氨脂复合材料的断面扫描电子显微镜的照片进行了分析,提取了一个分散指数。结果显示,对于比较难判断分散性的图片,可以用此量化方法判断分散性能。