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Phase identification from electronic structures by Auger electron spectroscopy

机译:通过俄歇电子能谱从电子结构进行相识别

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摘要

A technique of phase identification from the characteristics of electronic structures is established by Auger electron spectroscopy. GaN epilayers in wurtzite and zinc-blende polytypes are used for practical investigations. Auger spectra show phase-dependent energetic shifts and peak intensity variations. Simulation of theoretical spectra reveals the substantial correlation of the Auger line shape with the bonding electronic states. This approach demonstrates the correspondence between electronic structure and atomic structure and hence provides criteria for phase identification.
机译:通过俄歇电子能谱建立了一种根据电子结构的特征进行相识别的技术。纤锌矿型和闪锌矿型的GaN外延层用于实际研究。俄歇光谱显示出相位相关的能量移动和峰强度变化。理论光谱的仿真揭示了俄歇线形状与键合电子态的实质相关性。这种方法证明了电子结构和原子结构之间的对应关系,因此为相识别提供了标准。

著录项

  • 来源
    《Journal of Materials Research》 |2008年第1期|p.83-86|共4页
  • 作者单位

    Department of Physics and Semiconductor Photonics Research Center, Xiamen University, Xiamen 361005, China;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 工程材料学;
  • 关键词

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