ディジタルx線撮影システムの画質特性の評価における測定の実雋: Flat Panel Detcctor Systemを中心に

摘要

本邦におけるディジタルX線撮影システム（以下， ディジタルシステム）の画質特性の評価は，Computed radiography（CR）システムが1983年に発売されて以 降，多くの研究者によって行われてきた．ディジ タルシステムの評価では，増感紙・フイルムシステム の物理的な特性の解析に不可欠だった高額なマイク ロデンシトメータを必要とせず，身近にあるパーソナ ルコンピュータと，いくつかのソフトウェアによって データの解析が可能である．画像データの収集時 に，X線量を測定する線量計や解像特性を調べるた めの金属製のX線スリット，エッジ，あるいは矩形波 テストパターンのいずれかのデバイスを必要とするも のの，短期間であればメーカ等から借用できる場合も あるため，測定を行うための環境は比較的整えやす いと思われる．