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数字X射线成像系统的分辨率性能评估方法

摘要

本发明提供一种数字X射线成像系统的分辨率性能评估方法,包括:①连续采集多幅刀口图像;②对所采集的多幅刀口图像叠加平均,而后对平均后的刀口图像进行刀口边界检测,并且利用直线拟合获得刀口边界直线;③获得刀口倾斜角度,构建出过采样ESF曲线;④采用单调曲线拟合方法对过采样曲线消噪;⑤选择适当的平移距离,构建真实ESF曲线与其平移距离结果的差值曲线,对其傅里叶变换得到sinc函数;⑥对实际过采样ESF曲线进行适当的平移,而后与原来的过采样曲线相减,得到对称的过采样曲线;⑦利用频域下恶化模型公式求解系统调制传递函数。本发明可以获得较传统刀口测量方法更为准确的MTF曲线。

著录项

  • 公开/公告号CN104083177B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-07-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201410326513.1

  • 发明设计人 周仲兴;高峰;赵会娟;张力新;

    申请日2014-07-08

  • 分类号

  • 代理机构天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人程毓英

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2022-08-23 09:43:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-07-06

    授权

    授权

  • 2014-10-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 6/00 申请日:20140708

    实质审查的生效

  • 2014-10-08

    公开

    公开

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