数字X射线成像系统的系统量子探测效率（SDQE）测试

摘要

目的：量子探测效率（DQE）是描述数字X射线平板探测器的图像质量和剂量利用效率的综合指标。在以往的研究和实践中，我们所做的努力是研发了一种实验性的统一方法来测定平板探测器的量子探测效率，包括IEC62220-1系列标准。然而，评价数字X射线成像系统的DQE才更有实际临床意义。本论文通过对系统DQE (SDQE)的测试，比较SDQE与其描述的平板探测器DQE的差异，讨论了数值差异的原因以及提高SDQE的方法。