机译:PbO基玻璃钝化的MOS电容器的水蒸气暴露
Toshiba ULSI Research Center, 1-Komukai Toshiba-cho Kawasaki, Japan;
机译:化学和机械抛光对暴露于水蒸气的AIF3-GeO2-B2O3玻璃钝化的MOS电容器的电容-电压曲线恢复的影响
机译:水蒸气,加热以及化学和机械抛光对钝化的MOS电容器的影响
机译:含BN和PbF2的SiO2-B2O3-GeO2玻璃钝化的MOS电容器的极化电容-电压曲线的改善
机译:PERT太阳能电池概念钝化Si基掺杂玻璃大气压化学气相沉积过程中的影响
机译:循环温度,水蒸气和暴露时间对页岩微裂缝扩展的影响。
机译:基于林地型温度和水蒸气在加利福尼亚州西北部的Borrelia Burgdorferi感染的Ixode Pacificus若虫的空间显式模型
机译:短期暴露于高大气压蒸气压(VPD)严重影响杜兰姆碳和氮代谢在没有助剂水分胁迫下
机译:气氦吹扫罐式多层绝缘系统在地面保持和空间保持热循环和暴露于水蒸气期间的热性能