机译:LaNiO3底部电极厚度对(100)取向PbZr0.53Ti0.47O3薄膜的铁电和介电性能的影响
CNRS, UMR 8520, IEMN, DOAE,MIMM Team, F-59655 Villeneuve Dascq, France;
X-ray diffraction; perovskite; ferroelectric materials; LEAD-ZIRCONATE-TITANATE; PB(ZR; TI)O-3 THIN-FILMS; SOL-GEL PROCESS; ELECTRICAL-PROPERTIES; PREFERENTIAL ORIENTATION; PIEZOELECTRIC PROPERTIES; PB(ZR; DEPENDENCE; SI;
机译:(111)优选取向PbZr0.53Ti0.47O3 / Pb(Mg1 / 3Nb2 / 3)(0.62)Ti0.38O3 / PbZr0.53Ti0.47O3三层膜的介电和铁电性能
机译:退火温度和厚度的联合作用对溶胶-凝胶法制备LaNiO3 / Si衬底上PbZr0.53Ti0.47O3薄膜性能的影响
机译:LaNiO_3底部电极上高度(100)取向(Pb_(0.60)Ca_(0.20)Sr_(0.20))TiO_3薄膜的结构,光学和介电性能的研究
机译:SRRUO3 / LANIO3双层底电极对C轴定向CABI4TI4O15薄膜特性的影响
机译:使用条纹效应传感器和传感器阵列测量介电性能和介电膜厚度。
机译:锡顶电极综合研究原子层沉积铁电HF0.5盎司薄膜
机译:溶胶-凝胶衍生的$ Pb_ {0.85} La_ {0.15} TiO {_3} $铁电薄膜在不同底部电极上的介电和铁电响应