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机译:氧化铋锗(Bi12GeO20)中光致载流子的传输过程
Bell Telephone Laboratories, Incorporated, Holmdel, New Jersey;
机译:Bi12SiO20中光致载流子的传输过程
机译:Bi12GeO20在``弛豫半导体状态''下的载流子传输和电流振荡
机译:使用双射流电弧等离子体直接分析铋和锗氧化物以及高锗酸铋晶体的原子发射。
机译:氧化铋锗和氧化铋铋漂移漂移的温度依赖性
机译:氧化铋铋和氧化锗铋的超声衰减。
机译:催化吸附剥离伏安法测定V(IV) - HEDTA复合物和铋改性碳电极的氧化性能
机译:铋和氧化硅晶体(Bi12SiO20)或锗(Bi12geo20)中的光焦效应
机译:铋氧化锗近红外耐火指数(BI12GEO20)