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Comparison of Langmuir probe and Thomson scattering measurements of electron temperature and density

机译:Langmuir探针和Thomson散射测量电子温度和密度的比较

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摘要

Measurements of electron temperature and density made with Langmuir probes are compared to those made by Thomson scattering. The comparison is made over a range of electron density [(0.3-1.6)×1015 cm-3] and temperature (1–2 eV). The two diagnostic techniques agree to within 20% in the case of the electron temperature and to within 10% in the case of the electron density.
机译:将用Langmuir探针进行的电子温度和密度测量与通过Thomson散射进行的测量进行比较。在电子密度[(0.3-1.6)×1015 cm-3]和温度(1-2 eV)的范围内进行比较。两种诊断技术在电子温度的情况下一致为20%以内,在电子密度的情况下一致为10%以内。

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  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1974年第12期|P.5206-5208|共3页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
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