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【24h】

Defect structure of Cd‐doped Pb0.8Sn0.2Te

机译:Cd掺杂Pb0.8Sn0.2Te的缺陷结构

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摘要

Pb0.8Sn0.2Te single crystals are equilibrated with (Pb0.8Sn0.2)x Cd1-x alloys of various compositions at 700 and 800 °C and quenched to room temperature. Cd solubility and Hall‐effect measurements as a function of the activity of Cd have led to the development of a defect model for Cd‐doped Pb0.8Sn0.2Te according to which most of the Cd is present as neutral CdxPb, a small fraction being present as positively charged Cdi compensated by negatively charged vacancies of Pb, V′Pb. The model can also be used to predict the behavior of Cd‐doped Pb0.8Sn0.2Te in Cd‐rich atmospheres and Te‐rich atmospheres.
机译:将Pb0.8Sn0.2Te单晶与各种组成的(Pb0.8Sn0.2)x Cd1-x合金在700和800°C平衡,然后淬火至室温。 Cd溶解度和霍尔效应测量值与Cd活性的关系导致了Cd掺杂Pb0.8Sn0.2Te缺陷模型的发展,据此,大多数Cd以中性CdxPb的形式存在。以带正电荷的Cdi形式存在,并被带负电荷的Pb,V'Pb空位补偿。该模型还可用于预测富Cd大气和富Te大气中Cd掺杂的Pb0.8Sn0.2Te的行为。

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1976年第11期|P.5003-5009|共7页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
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