机译:氮对轻氮化SiO_(2)/ Si界面隧穿势垒高度和电子和空穴有效质量的影响
School of Electrical and Electronic Engineering, Nanyang Technological University, Singapore 639798 Singapore;
机译:温度对MOS电容器中的福勒 - 诺尔海姆屏障高度,扁平带电位和电子/空穴有效质量的影响
机译:利用弹道电子发射显微镜和弹道空穴发射显微镜对Cu / Si(001),Ag / Si(001)和Au / Si(001)界面的肖特基势垒高度进行测量
机译:势垒高度和有效质量对SiOxNy / Si界面上氮浓度和栅氧化层厚度的影响
机译:屏障高度和有效电子质量对SiO_XY / Si接口栅极氧化物厚度和氮浓度的依赖性
机译:硅/二氧化硅界面陷阱处的电子-空穴复合以及薄氧化物MOS晶体管中的隧穿的理论和实验。
机译:MoS2 / MoOx界面的电子特性:隧道场效应晶体管和空穴接触的含义
机译:氮对轻微氮化siO2 / si界面隧道势垒高度和电子和空穴有效质量的影响