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机译:光学二次谐波研究SiO_2中间层厚度对Si / SiO_2 / Al_2O_3叠层中电荷密度和极性的影响
Department of Applied Physics, Eindhoven University of Technology, P.O. Box 513, 5600 MB Eindhoven, The Netherlands;
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机译:Si(100)/ SiO_2界面二次谐波产生光谱中空间电荷场的极性
机译:具有光谱二次谐波特征的Si / SiO_2 / Hf_(1-x)Si_xO_2薄膜堆叠中的电荷俘获缺陷
机译:SiO_2 / HfO_2或Al_2O_3 / HfO_2堆栈的非易失性存储器的可变氧化物厚度隧道势垒的电荷俘获特性
机译:叠层AI / HfO_2 / SiO_2 / 4H-SiC电容器中C-V色散的SiO_2厚度依赖性
机译:通过二次谐波产生研究了绝缘体上硅和硅/二氧化硅/氧化镁异质结构中的电荷载流子动力学。
机译:自由载流子密度对磁传输场效应调制研究(ZnCo)O薄膜磁性能的影响
机译:通过光学二次谐波研究,SiO2中间层厚度对Si / SiO2 / Al2O3电池堆中电荷密度和极性的影响
机译:用光学二次谐波产生ag / Cu(110)双金属界面的研究。