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机译:傅里叶变换红外光谱法作为晶格变形的晶格变形的起源的物理分析
Univ Tokyo Dept Mat Engn Bunkyo Ku Tokyo 1138656 Japan|Univ Gadjah Mada Dept Chem Bulaksumur 55281 Yogyakarta Indonesia;
Univ Tokyo Dept Mat Engn Bunkyo Ku Tokyo 1138656 Japan;
机译:通过控制红外光谱表征的氧化条件,抑制4H-SiC / SiO_2界面处副产物的产生
机译:面内X射线衍射法表征4H-SiC(0001)表面热氧化引起的局部晶格畸变
机译:傅里叶变换红外反射-吸收光谱法(FT-IRRAS)和X射线光电子能谱研究了牛血清白蛋白在铬和钼表面的吸附
机译:残留氧化副产物作为4H-SiC表面晶格畸变的起源的物理分析
机译:Femtosecond非线性光谱在表面下:硅(111)7×7表面和傅里叶变换和频率振动光谱燃烧的孔燃烧的第二谐波探测
机译:傅里叶变换红外(FT-IR)光谱指纹识别不同大小和细胞起源的细胞外囊泡亚群
机译:总有机碳分析和傅里叶变换红外光谱法测定表面上清洁剂的残留物
机译:傅立叶变换红外(FTIR)光谱表面分析