机译:Ti,TiN和WN作为钨双多晶硅栅堆叠在存储设备中的互扩散壁垒
Memory R & D Division, Hynix Semiconductor Inc., Ichon P.O. Box 1010, Ichon-si, Kyoungki-do 467-701, Korea;
diffusion barrier; DRAM; polydepletion effect; TiSi_x; TiN; tungsten; dual polygate;
机译:Ti / WN / WSiN势垒金属优化存储器件中的钨双金属栅极
机译:钨双多晶硅栅极存储器件中p沟道金属氧化物半导体场效应晶体管的栅极界面电阻对绝缘氮化硼形成的依赖性
机译:高性能存储器件中具有多扩散势垒金属的低电阻钨双多金属栅极
机译:钨双多金属栅存储器件的WSix / WN扩散壁垒的限制
机译:在隔热涂层和碳化钨热喷涂涂层中,材料性能,残余应力以及热载荷和机械载荷与涂层降解之间的关系。
机译:人为因素/个人居家医疗器械的可用性障碍有残疾条件的患者:气道正压通气装置的深度访谈用户数
机译:采用宏观极化堆栈的高速和非易失性存储器件,由与工程隧道氧化物阻挡层相互连接的双浮动栅极组成
机译:用于快速,高密度,非易失性存储器件的凤头隧道屏障