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Investigation of In-situ Boron-Doped Si Selective Epitaxial Growth by Comparison with Arsenic Doping

机译:与砷掺杂比较研究原位掺杂硼的Si选择性外延生长

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摘要

In-situ boron-doped silicon selective epitaxial growth (SEG) was investigated by comparison with in-situ As-doped SEG. The dopant concentration and growth rate of the film grown under low pressure are high for B-doped SEG, while they are high under atmosp
机译:通过与原位掺砷SEG的比较,研究了原位掺硼硅选择性外延生长(SEG)。 B掺杂SEG在低压下生长的薄膜的掺杂剂浓度和生长速率高,而atmosp下则高。

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