机译:接触电阻是有机场效应晶体管中沟道长度相关阈值电压的起源
Institute of Electronics and Photonics, Slovak University of Technology, Ilkovicova, Bratislava 81219, Slovakia;
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology, Meguro, Tokyo 152-8552, Japan;
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology, Meguro, Tokyo 152-8552, Japan;
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology, Meguro, Tokyo 152-8552, Japan;
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology, Meguro, Tokyo 152-8552, Japan;
机译:试图了解基于电化学生长的AlO_x电介质的有机场效应晶体管的磁滞效应和阈值电压偏移的起源
机译:自组装单分子层的电荷俘获是有机场效应晶体管中阈值电压偏移的起源
机译:揭示掩埋接口以了解有机场效应晶体管的阈值电压漂移的起因
机译:有机场效应晶体管中大接触电阻的起源
机译:分析低压p型,新材料n型和双通道有机场效应晶体管的器件特性。
机译:调整电解质门控有机场效应晶体管中的阈值电压
机译:自组装单分子层的电荷陷阱是有机场效应晶体管阈值电压漂移的根源