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机译:一种基于X射线光电子能谱数据评估超薄涂层厚度的方法
Kurnakov Institute of General and Inorganic Chemistry, Russian Academy of Sciences, Leninskiipr. 31, Moscow, 119991 Russia;
机译:考虑到电子的弹性散射的X射线光电子能谱法测定超薄涂层的厚度
机译:X射线光电子能谱数据确定超薄金膜的厚度
机译:X射线光电子能谱法测定超薄膜的厚度
机译:用于沉积Ti / TIN涂层的反应等离子体喷雾:X射线衍射(XRD)和X射线光电子谱(XPS)的对比组成研究
机译:超薄保护涂层的制备及X射线光电子能谱和光谱椭圆形分析
机译:各种清洗方法对水基缓冲层浸涂Ni-5%W衬底的影响:X射线光电子能谱研究
机译:各种清洗方法对水基缓冲层浸涂Ni-5%W衬底的影响:X射线光电子能谱研究
机译:射频溅射溴化铬,钼,二硅化钼和二硫化钼涂层的X射线光电子能谱研究及其摩擦性能