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常温接合による銅バンプレスインタコネクトと三次元集積化

机译:铜无凸点互连和通过室温键合进行三维集成

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摘要

三次元集積化における技術の現状を,特に,チップやウェーハの積層において重要な役割を果たすrn接合技術に焦点を当てて総括する.Cu-Cuの接続を室温で実現する表面活性化接合を併せて紹介する.この方法rnは,イオン衝撃による表面の活性化とこれに続く清浄環境での接触のみによって,低温接合を実現する手法であrnる.この方法により,ミクロンレベルのCu-Cuのバンプレスインタコネクトを100万端子一括接合により実現rnした.
机译:总结了三维集成的最新技术,重点关注rn键合技术,该技术在堆叠芯片和晶圆中起着重要作用。我们还介绍了在室温下实现Cu-Cu连接的表面活化键合。该方法是仅通过离子轰击激活表面并随后在清洁的环境中进行接触来实现低温结合的方法。通过这种方法,通过将一百万个端子结合在一起,可以实现微米级的Cu-Cu无凸点互连。

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