机译:LFSR产生的包含硬随机模式抗性的电路的确切预期测试长度
BIST; test length; random-pattern-resistant fault;
机译:研究在外部“异或”型LFSR中生成的某些特殊序列长度
机译:用于VLSI电路的虚拟穷举测试的树状LFSR综合方案
机译:用于VLSI电路的虚拟穷举测试的树状LFSR综合方案
机译:用于VLSI电路伪穷举测试的树结构LFSR综合方案
机译:通过设计技术对硅锗异质结双极晶体管和数字逻辑电路进行硬度保证测试和辐射硬化。
机译:HapMap项目中的标记数:关于Hardy-Weinberg平衡的卡方和精确检验的一些说明
机译:内置自测电路的LFSR和BCA VHDL模型
机译:微电子器件和集成电路的辐射硬度保证测试:辐射环境,物理机制和硬度保证基础。