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SOC基于LFSR的混合模式测试

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摘要

随着集成电路深亚微米制造技术和设计技术迅速发展.系统芯片(SOC)作为一种解决方案得到了越来越广泛的应用.SOC的测试中,内建自测试(Built.In Self-Test,BLST)成为人们研究的热点.文中对SOC的设计特点及其BIST中的混合模式测试进行了探讨.

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来源
《电子质量》 |2008年第12期|34-35,39|共3页
作者
赵小康; 王明湘;
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作者单位

苏州大学电子信息学院,江苏,苏州,215021;

苏州大学电子信息学院,江苏,苏州,215021;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
SOC; SOB; LFSR; 混合模式测试; BIST;

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专利

1. 一种基于受控LFSR的内建自测试结构及其测试矢量生成 [J] . 胡晨 ,许舸夫 ,张哲 . 电路与系统学报 . 2002,第003期
2. 基于多配置LFSR的测试生成结构设计 [J] . 李鹏 ,颜学龙 ,孙元 . 计算机工程与科学 . 2014,第005期
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