机译:TCAD驱动的漏极工程技术可降低3.3 V I / O PMOSFET的载流子
OKI Electric Industry Co., Ltd., Hachioji-shi, 193-8550 Japan;
hot carrier degradation; I/O transistor; drain avalanche hot carrier; channel hot hole; photo-mask reduction;
机译:具有SiGe通道和嵌入式SiGe源/漏应力源的应变pMOSFET的特性和热载流子效应
机译:热载流应力对具有和不具有SiGe源/漏的40 nm PMOSFET射频可靠性的影响
机译:具有不同侧壁隔离层厚度的单漏极PMOSFET的热载流子退化
机译:TCAD驱动漏极工程,用于3.3V I / O PMOSFET的热载体减少
机译:SOI MOSFET的漏极泄漏和热载流子可靠性。
机译:O3.3。患有精神疾病的人的寿命预测降低与复合物质使用失调有关:电子病例注册研究
机译:在改进的晶片上制造的130nm部分耗尽的SOI PMOSFET中由热载体注射诱导的降解
机译:ada编译器验证摘要报告:证书编号:910711W1.11189 GsE Gesellschaft fur software-Engineering mbH meridian ada,4.1版sGI personal Iris W-4D25 = sGI personal Iris W-4D25,Irix system V 3.3 Irix system V 3.3。