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【24h】

順序回路のソフトエラー率解析手法の非明示的列挙による高速化について

机译:隐式枚举加速时序电路软错误率分析方法

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摘要

Soft-error is a phenomena that the output value of a logic gate flips transiently because of neutronrnparticle strike, etc. Exactly evaluating the soft-error rate for sequential circuits requires analysis of finite staternmachine corresponding to the given circuit, which is known to be inefficient if using a naive method. This paperrnproposes an efficient algorithm to analyze propagation effect caused by soft-errors, which utilizes binary decisionrndiagrams for implicitly enumeration.%中性子線などの影響で論理回路中の論理値に一時的な誤りが発生することをソフトエラーと呼ぶ.順序回路中において論理素子やフリップフロップで発生したソフトエラーが外部出力まで伝搬する確率を計算するためには順序回路が実現している有限状態機械を解析する必要があり,単純な方法では多くの計算量を必要とする.本稿では順序回路の等価性検証で用いられる,2分決定グラフを用いた非明示的列挙手法を応用して高速に順序回路のソフトエラー耐性を評価する手法について述べる.
机译:软错误是由于中子粒子撞击等原因导致逻辑门的输出值瞬时翻转的现象。要准确评估顺序电路的软错误率,需要分析与给定电路相对应的有限状态机,这是无效的。如果使用天真的方法,本文提出了一种有效的算法来分析由软错误引起的传播效应,这有助于二进制决策图进行隐式枚举。%由于中子射线的影响,逻辑电路中的逻辑值中会出现临时错误。这称为软错误。为了计算在逻辑元件或时序电路中的触发器中产生的软错误传播到外部输出的可能性,有必要分析由时序电路实现的有限状态机。它需要大量的计算。在本文中,我们描述了一种通过应用使用二进制决策图的隐式枚举方法来高速评估时序电路的软错误容限的方法,该方法用于时序电路的等效性验证。

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