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机译:使用栅极感应的漏极泄漏电流进行电荷注入,以表征CMOS器件中的等离子体边缘损坏
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机译:循环电流-电压表征应用于栅极定义等离子体蚀刻中的边缘损伤评估
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机译:等离子体处理引起的MOS器件充电损坏的表征
机译:CMOS图像传感器和等离子体工艺:PMD氮化物充电如何在暗电流上作用
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机译:相对论电子束注入电荷但非电流中和等离子体形成环电流的演变。