机译:使用k最近邻规则进行半导体制造过程中的故障检测
electronics industry; fault location; integrated circuit manufacture; principal component analysis; fault detection; k-nearest neighbor rule; principal component analysis; semiconductor manufacturing process; statistical process; Fault detection; k-nearest neighbo;
机译:使用随机投影和k最近邻规则进行半导体制造过程的故障检测
机译:基于扩散图的k近邻规则技术在半导体制造过程故障检测中的应用
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机译:使用卷积自动编码器和k最近邻规则对半导体制造过程进行自动故障检测
机译:绝缘栅双极晶体管(igbt)的故障检测和预测,使用k最近邻分类算法。
机译:使用K最近邻算法(KNN)进行QRS检测并在标准ECG数据库上进行评估
机译:半导体制造过程中设备故障检测的预测模型
机译:k-最近邻规则